SEM（エスイーエムー）の履歴
走査型電子顕微鏡 (Scanning Electron Microscope; SEM)
観察対象に電子線をあて、そこから反射してきた電子（または二次電子）から得られる像を観察する顕微鏡。走査型の名は、対象に電子線を当てる位置を少しずつずらしてスキャン（走査）しながら顕微鏡像が形づくられることから。電子は検出器に集められ、コンピュータを用いて2次元の像が表示される。
対象の表面の形状や凹凸の様子、比較的表面に近い部分の内部構造を観察するのに優れている。観察対象が導電性のないものの場合、電子線をあて続けると表面が帯電してしまい、反射する電子のパターンが乱れるため、観察対象の表面をあらかじめ導電性を持つ物質で薄くコーティングしておくことが行われる。
wikipedia電子顕微鏡より。
「こちらのSEM像を見てください。ウイルスの形状が…」
「ほー、なるほどね～。」と言ってみるが、スマン全然わかんないんだ。
見慣れないものって全然わかんないよな。
